Scan elektrochemische microsystemen (SECM)

Elektrochemische microscoopsysteem voor AC-scan (ac-SECM)

Intermittent contact scannen elektrochemische microscopie systeem (ic-SECM)

Micro-zone elektrochemische impedantie testsysteem (LEIS)

Scanning Vibration Click Testing System (SVET)

Microdruppelscanningssysteem voor elektrolyten (SDS)

Microdruppelscanningssysteem voor AC-elektrolyten (ac-SDS)

Scan Kelvin Probe Testsysteem (SKP)

Non-Touch Micro-Zone Morphology Testsysteem (OSP)

Uitstekende prestaties

Het snelle en nauwkeurige gesloten loop positioneringssysteem is speciaal ontworpen voor de behoeften van nanoschaal onderzoek met elektrochemische scanningssondes. In combinatie met de unieke hybride 32-bit DAC-technologie van Uniscan kunnen gebruikers de beste configuratie kiezen voor de juiste experimentele studie

Geavanceerd en flexibel werkplatform

Het systeem biedt negen sondetechnologieën, waardoor de M470 het meest flexibele elektrochemische scanningsplatform ter wereld is.

Volledige accessoires

Er zijn 7 modules beschikbaar, 3 verschillende elektrolysepools, verschillende probes, lange afstandsmicroscopen en software voor de analyse van gegevens voor nabewerking.

Nieuwe productkenmerken M470

SECM automatische verwerkingscurve

SECM gebruiker aangepaste verwerking curve stap veranderingen

Hoge resolutie lezen

Handmatig of automatisch aanpassen van de fase

De M470 beschikt over de volgende kenmerken:

Kantelcorrectie

X- of Y-curve afname (5e orde polynoom)

2D of 3D snelle Fourier veranderingen

Automatische sortering van experimenten, probe beweging en gebied tekening

Grafische experimentele sequentiemotor (GESE)

Ondersteuning voor multi-zone scanning

Meerdere gegevensverzichten voor alle experimenten

Peak analyse

De M470 is een vierde generatie scansondesysteem ontwikkeld door Uniscan Instruments met hogere specificaties en meer sondetechnologie.

Technische parameters M470

Werkstations (alle technieken)

Scanbereik (x, y, z) groter dan 100mm

Scan drive resolutie tot 0,1 nm

Gesloten loop positionering Lineaire zero lag encoder voor directe real-time lezing van x-, z- en y-verschuivingen

Resolutie van de as (x, y, z) 20nm

Maximale scannsnelheid 12.5mm/s

Meetresolutie 32-bit decoder tot 40 MHz

Piezoelektriciteit (IC- en AC-scansondetechnologie)

Trillingsbereik 1nm toename tussen 20nm ~ 2μm pieken en pieken

Minimale trillingsresolutie 0,12 nm (16-bit DAC, 4 μm)

Strekking van het piezokristal 100μm

Positioneringsresolutie 0,09 nm (20-bit DAC, 100 μm)

Elektromechanische

Scan voorkant 500 × 420 × 675mm (H × B × D)

Scanbesturingseenheid275× 450 × 400mm (H × B × D)

vermogen250W